高壓加速老化試驗箱實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。臨界點LIMIT方式自動保護，異常原因與故障指示燈顯示。型packing，箱內壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
試驗箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（內平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護地線接地電阻小于4Ω

試驗箱產品特色：
1、具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動。
2、試驗過程自動運轉至完成結束，使用簡便。
3、溫度控制：LED數字型溫度控制器可作Jing確試驗溫度之設定、控制及顯示。
4、定時器：LED數字型定時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗完全。
5、Jing準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內壓力與相對溫度。
6、運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到好的蒸氣品質。
7、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。
8、內經拋光處理美觀不沾污。

試驗箱特點：
1、內外箱均采用304不銹鋼板，圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。
2、圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
3、設計可靠，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續200h。
4、自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。
5、型packing，箱內壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
6、實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。
7、臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

試驗箱執行與滿足標準：
1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術條件；
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗；
3.MIL-STD810D方法502.2；
4.GJB150.9-8溫濕試驗；
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環試驗；
高壓加速老化試驗箱詳細說明：
    隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（國際電工會）所標準化。
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